第1个回答 2016-06-03
在20世纪50年代开创的场离子显微镜及其有关技术，是一种原子直接成像方法，能清晰地显示样品表层的原子排列和缺陷，并在此基础上进一步发展到利用原子探针鉴定其中单个原子的元素类别。
场离子显微镜技术的主要优点在于表面原子的直接成像。但是由于参与成像的原子数量有限，因而场离子显微镜只能研究在大块样品内分布均匀和密度较高的结构细节，否则观察到某一现象的几率有限。此外在成像场强作用下，样品经受着极高的应力，可能使样品发生组织结构的变化，如位错形核或重新排列、产生高密度的假象空位或形变孪晶，甚至引起样品的崩裂。 到了1970年，又有新的看得到原子的显微镜出现，SEM(Scanning Electron Microscope)只是它只能看到重原子，1983年又有STM(Scanning tunneling Microscope)此种显微镜的样品便不再只限制成针状，可用来看像的样品范围更大了。另外还有TEM，样品要切成一片很薄的膜，技术上比较困难，而且会将样品结构破坏，价钱亦较昂贵。虽说原子解析技术不再被FIM独占，但目前能有与多的研究或实验需要靠FIM才能做，像是单独原子，或单一原子团在特定的表面之原子运动过程。这些可都一定少不了FIM的！
相似回答