层状硅酸盐矿物晶体结构的基本型式虽然只有几种,但各矿物种的晶胞参数却有较大的变化。通过X射线分析测定晶胞参数对鉴定层状硅酸盐矿物具有很大意义。这些参数的变化主要表现在以下两方面:
(1)d001的变化:不同层状硅酸盐矿物(001)面网间距不同。具1∶1型结构单元层者最小,如高岭石d001=7.15;具2∶1型者较大,如伊利石为10。层间充填物对d001有明显影响,如滑石d001=9.3;当层间充填K+形成金云母后其d001增大为10.2;若层间为氢氧镁石层而形成绿泥石,则d001=14.3。含有层间水的矿物还因被水饱和程度不同而有所改变,如埃洛石d001=10.1,加热至110℃失去层间水后即变为7.2,以Mg-甘油饱和处理后的埃洛石d001可增大至11。蒙脱石在进行各种处理后,其d001变化更为显著。
如果层状硅酸盐矿物晶格中单元层堆垛时发生相对转动,形成复杂的堆垛顺序,其c0值即成倍增大,d001即相应地为d00L代替(详见下一节中多型现象的概念)。
(2)b0值:八面体片中阳离子的种类对b0值有明显影响,其中又以二八面体结构与三八面体结构之间的差别最明显。例如,同为云母族矿物,具二八面体结构的白云母b0=9.00,而具三八面体结构的金云母b0=9.2。X射线分析中常以d060来表示b0(d060=b0/6),三八面体结构的层状硅酸盐d060大于1.51,而二八面体结构者小于此值。
X射线分析的原理与方法,可参考有关教材。层状硅酸盐矿物有鉴定意义的d值(主要是d001)比较大,X射线分析法中衍射法较适用于大d值的测定。因此,鉴定层状硅酸盐常用X射线衍射法。