半导体器件在工作时,有时要承受较大的冲击电流,器件的用途不同,要求器件能承受浪涌电流的能力也不同,为了检测器件承受浪涌电流的能力,可产生一个大的浪涌电流施加于被测器件上,从而检测被测器件是否能承受大浪涌电流的冲击。这个是浪涌电流测试仪原理。
你提到的这家有的,我们公司有用过的,大概参数是这样的,
1. ITSM、IFSM 测试范围:1—1200A 连续可调
2. ITSM、IFSM 波形:近似正弦半波
3. 浪涌波形底宽:8.3mS和10mS两档转换
4. 反向峰值电压测试范围:0—2000V连续可调
浪涌电流的波形如下图