黄金作为一种贵金属，有良好的物理特性，“真金不怕火炼”就是金的化学稳定性很高，不容易与其他物质发生化学反应，不必担心会氧化变色。即使是在熔融状态下也不会氧化变色，冷却后照样金光闪闪。密度大，手感沉甸。韧性和延展性好，良好导性。接下来小编给您讲讲黄金真假测试之X射线荧光光谱法，优缺点介绍，有不明白的就认真看下文。
X射线荧光光谱法
X射线荧光光谱法测定黄金首饰的纯度是一种简单、快捷的方法。其原理是X射线管（或放射源）产生入射X射线（一次X射线）激发被测样品，受激发样品中的元素会放射出二次X射线，不同元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性；探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量，采用软件直接转换成各种元素的种类和含量。
X射线荧光光谱法的优点：X射线荧光光谱法是目前应用于黄金首饰分析中最为广泛的方法。其优点是分析速度快，不损坏样品，检测成本低。目前使用XRF分析仪对贵金属进行化学成份分析及纯度成色判断已经成为一种广泛应用、极受欢迎的方法，并且符合国家标准GB/T-18043-2008标准。与火花试金法和化学试剂测试法相比，使用XRF对贵金属进行分析是一种更迅速、更经济的多元素检测方法。XRF分析仪为用户提供了一种操作方便，且性价比极高的检测技术：无需将检测工具探入到被测样件的材料中，也不会损坏被测样件，即可获得样件的合金化学成份信息，判断出样件的百分比纯度。内置电脑的一体化机型，无需外接电脑，一键操作即可智能化分析贵金属含量。采用Si-pin(USA)进口探测器高精度机型能迅速区分千足金（99.9%）和万足金（99.99%）。
X射线荧光光谱法的一些局限性：由于X射线只能测试首饰表面，是对样品特定点的定性及定量分析，因此要求被测样品有较好的均匀性，无夹心、包裹现象。对于表面镀层较厚和内部掺铱、钨等金属的样品测试，该方法仍然存在一定的风险性，需要配合密度法进行整体测试，以排除常规包金镀金情况。
在常规的小件贵金属首饰样品中，包金饰品、镀金饰品等仿真首饰，这类产品通常覆层厚度不大，检测时结合密度法通常能很容易检测出来，小件样品中用钨制作包金的难度较大，因为钨的熔点和硬度比黄金高，只有大的样品，如手镯、金条、金块、金锭，金塑等大件制品内部易用钨或者铱作为胎体，进行电镀或者包裹，所以典当业和回收业的朋友遇到此类样品，需要格外小心。以上方法尽管对包铱或钨的大件包金样品仍然有一定的检验难度，但足以区分出大部分常规的镀金样品，将潜在风险控制在一定范围之内。