原子吸收的背景为哪几种方法可以校正

如题所述

原子吸收光谱法中扣除背景方法通常有三大类: 连续光源校正背景, 空心阴极灯自吸效应校 正背景,塞曼效应校正背景。 (1)连续光源校正背景。当待测元素波长在紫外波段(180-400nm),采用氘灯或氘空心阴 极灯。波长在可见光及近红外波段时采用钨或碘钨灯,是现代 AAS 仪器应用较广泛的一种 校正背景方法。其原理是用待测元素 HCL 的辐射作样品光束,测量总的吸收信号,用连续 光光源的辐射作参比光束并视为纯背景吸收, 光辐射交替通过原子化器, 两次所测吸收值相 减因而使背景得到校正,这种方法有时产生背景校正不足或过度。两种光源光强度要匹配, 光斑要重合一致,但近年使用氘空心阴极灯可以克服这类不足之处。
(2)自吸(收)效应校正背景,又称 S-H 法校正背景。其原理是以低电流脉冲供电(峰值电 流 60mA)于 HCL 使其发射锐线光谱, 并测得原子吸收和背景吸收总吸收值, 以短时高电 流 脉冲供电(峰值电流约 600mA )于 HCL 使其发射谱线产生自吸(收)效应,而原子蒸气不为吸 收,其测得吸收值视为背景吸收值,将两值相减得到背景校正后吸收值。这种方法简单 和 成本低,能校正某些结构背景与原子谱线重叠干扰,可进行全波段 190-900nm 背景校正, 校正精密度高,但不是所有 HCL 灯产生自吸,有些元素如 AL、CA、V 等灵敏度下降。强 脉 冲影响 HCL 寿命。该法只作为其他校正法的补充。
(3)塞曼 Zeeman 效应校正背景是利用光源在磁场作用下产生谱线分裂的现象校正背 景。这种背景校正可有多种方法:可将磁场施加于 HCL,可将磁场施加于原子化器,可利 用横向效应,也可利用其纵向效应,可用恒定磁场,也可用交变磁场,交变磁场可分固定磁 场和可变磁场强度。一般用 2 磁场 Zeeman 背景校正, 近年也有 3 磁场 Zeeman 背景校正。 Zee-man 校正背景在 GFAAS 用得比较多,FAAS 用得比较少。不足之处为:比常规食品的 线性动态范围小,灵敏度也有所下降,个别元素谱线分裂不好。
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