ICT测试的盲点分为电气盲点、机械盲点、功能盲点三大类.
电气盲点又分为组合性盲点与超限性盲点,组合性如:与大电容并联的小电容,由于大电容的容差可能比小电容的值还大,所以小电容就不可测了,还有电阻的纯并联等; 超限性的如:电压较高的压敏电阻,极小的电感(0.1uH以下)等.
机械盲电主要是对于那些无法设置测试点的元件,ICT无法完全测试到,比如未完全引出管脚焊盘的BGA且无法用边界扫描测试到的管脚.还有由于元件太密而无法设测试针的电路部分.
功能盲点就是一些静态测试无法完成的性能:如IC的动态特性,部分电容的极性(无金属外壳的电容有50%无法测极性),非电气件的故障(能转换为电气特性的除外)等.
通常,有些特性是可以通过转化特性而获得测量的,如LED的颜色与亮度......
有更多的问题可向北京星河公司咨询,他们是国内做ICT最好的公司,他们的网站:
www.bjsrc.com