常用测试向量格式及转换工具

Question

如题所述

Answer 1

随着集成电路设计水平的提高，测试不再能依赖人工输入测试向量。当前，EDA或ATPG工具产生的向量通常需要转换成ATE可识别的格式。测试向量包括测试时序与测试向量，其格式与测试平台相关。不同ATE厂商的测试向量格式可能不同，且产品更新频繁。本文将介绍常用仿真向量格式，包括VCD、EVCD、WGL和STIL等，以及转换工具，如Agilent的Smar Test PG、Advantest的CATVert，Test Insight的Wave Wizard、Synopsys的TetraMAX、Mentor的FastScan，以及以色列Test Insight的TDL工具、Source III的VTRAN软件、美国TSSI的TDS转换工具。

VCD格式是IEEE 1364标准的一部分，基于Verilog硬件描述语言，用于描述器件某一时刻的输入/输出状态。EVCD文件在VCD基础上扩展了方向性和可描述事件种类。VCD文件中包括描述性与仿真性关键词，以零时刻为起点，记录信号事件集合，时间分辨率高，可达10ps甚至10fs，包含丰富时序信息。WGL格式用于描述扫描结构与测试图形时序，是基于ASCII码的数据描述性语言，但尚未成为IEEE标准。STIL格式是数字测试向量生成工具与测试设备交互的语言，结合了VCD与WGL的优点，用于描述测试向量和时序，支持周期型和事件触发型描述。

测试向量转换工具对于从基于ATE的测试程序开发流程至关重要。国际知名ATE供应商如Agilent、Advantest提供配套的转换工具，如Smar Test PG、CATVert。Source III公司的VTRAN软件具有高转换效率和批处理功能。以色列Test Insight的TDL工具具有强大的功能和转换效率。TSSI的Solstice-TDS转换工具支持市场主流ATE厂商，具有高效可靠的图形化操作界面和丰富的波形读取与显示功能。

总结，测试向量格式和转换工具的使用对于现代集成电路测试至关重要。VCD、EVCD、WGL和STIL等格式提供了不同场景下的测试向量描述方式，而Agilent的Smar Test PG、Advantest的CATVert、Test Insight的Wave Wizard、Synopsys的TetraMAX、Mentor的FastScan、以色列Test Insight的TDL工具、Source III的VTRAN软件和美国TSSI的Solstice-TDS转换工具等工具则提供了从EDA到ATE的高效转换路径，确保测试流程的顺畅进行。