氢氧化钴粒径可以通过多种方法进行测定，其中比较常用的方法有以下几种：
激光粒度分析法（Laser Diffraction Analysis）：该方法通过测量散射光的强度和角度分布来计算粒径分布。样品在液体中悬浮，并通过激光进行照射，测量经过样品后的光的散射强度和散射角度，通过数学计算得出样品的粒径分布。
动态光散射法（Dynamic Light Scattering）：该方法是利用布朗运动对粒子进行跟踪，并测量粒子的散射光强度的时间变化，从而计算出样品的粒径分布。
电子显微镜法（Transmission Electron Microscopy，TEM）：该方法是利用电子束通过样品，并通过投影模式得到粒子的二维图像，从而进行粒径的测量。该方法需要高分辨率的电子显微镜和样品的制备技术，但可以得到较为准确的粒径信息。
扫描电子显微镜法（Scanning Electron Microscopy，SEM）：该方法可以得到粒子的三维图像，从而更加准确地测量粒径。但需要对样品进行表面处理，并需要高分辨率的扫描电子显微镜。
综上所述，选择何种方法进行氢氧化钴粒径的测定，需要根据具体实验要求、仪器设备、样品性质等因素综合考虑。
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