粉末多晶X射线衍射仪测量单晶样品时得到的衍射图谱特征

Question

如题所述

Answer 1

使用粉末多晶衍射仪测量单晶体样品时得到的X射线衍射谱，相对于与所测单晶体同种类的多晶样品的X射线衍射谱来说，它的谱图特征可能是：衍射峰数量可能会变少，峰强度会有变化:有的会变强、有的会变弱；如果测试时单晶样品不旋转，有些峰可能就根本不出现，因为其照射角派生的2θ满足不了布拉格公式而发生衍射；其峰强弱依赖于单晶样品在谱仪样品架上的作固定安装的立体角参数。
若将一束单色X射线照射到一粒静止的单晶体上，入射线与晶粒内的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少数的晶面能符合布拉格公式而发生衍射。要使各晶面族都发生衍射，最常用的方法就是转动晶体。转动中各晶面族时刻改变着与入射线的交角，会在某个时候符合布拉格方程而产生衍射。目前常用的收集单晶体衍射数据的方法是：一为回摆法，二为四圆衍射仪法。
对于一个晶质良好的单晶体在进行XRD谱测定晶体结构参数时，为了得到理想的谱图信息往往要三五次地改变单晶样品在谱仪安装台上的安装固定方位。
粉末多晶衍射仪测量多晶样品时，就不需要转动样品，因为在统计学上必有一些晶面满足于布拉格方程而发生衍射；多晶样品中的晶体的每一个晶面都会在统计学上有相等的几率发生衍射。至于每个晶面拥有各自的重复性因子那是由晶面的位置本身决定的。

衍射峰的强度还和很多因素有关，比如样品的衍射能力、性质、还有仪器功率、测试方法、检测器的灵敏度等等。本回答被网友采纳

Answer 2

      粉末多晶衍射仪测量在工作时，为了使计数器永远处于试样表面的衍射方向，必须让试样表面与入射线呈θ角，因此计数器必须正好处于2θ的方位。所以，粉末多晶体衍射仪所探测的始终是与试样表面平行的那些衍射面。

　　因此，使用粉末多晶衍射仪测量单晶时只有与试样表面平行的晶面才能发生衍射，在衍射谱上则表现为：

尖锐的单峰。

（正好在整理到此题，就回答了，呵呵。）

Answer 3

这么专业的东西别指望到百度上找答案啊！！！去数据库找论文啊！！